GaN基綠光LED芯片電流加速失效機(jī)理研究
作者：莊瓊云; 潘書萬; 陳松巖; 李志明 黎明職業(yè)大學(xué)信息與電子工程學(xué)院; 福建泉州362000; 華僑大學(xué)工學(xué)院; 福建泉州362021; 廈門大學(xué)物理學(xué)半導(dǎo)體光子學(xué)研究中心; 福建廈門361005; 三安光電股份有限公司; 福建廈門361009
摘要：采用電流加速的電應(yīng)力老化方法研究GaN基綠光 LED芯片的失效機(jī)理。LED芯片在經(jīng)過60 mA 電流老化424 h后,其發(fā)光效率總體趨勢(shì)都是隨老化時(shí)間增加而減小,但是小測(cè)量電流相比于大測(cè)量電流的發(fā)光效率衰減程度更為明顯。同時(shí),在正向偏壓下電流電壓曲線基本沒有變化,而反向偏壓下的反向電流隨老化時(shí)間的增加而快速增加。筆者認(rèn)為在電應(yīng)力老化作用下,隨老化時(shí)間增加,有源區(qū)的缺陷能級(jí)增多,在正向偏壓下,缺陷能級(jí)起到一個(gè)有效陷阱的作用,增加了載流子的壽命,降低了輻射復(fù)合的幾率,使得發(fā)光效率降低,但是并沒有減小正向偏壓下的電流,而反向偏壓時(shí),缺陷能級(jí)起到了一個(gè)漏電通道的作用,使得反向電流增大。
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光電子激光雜志
光電子激光雜志， 月刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅(jiān)持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進(jìn)性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：光電子器件和系統(tǒng)、圖像與信息處理、測(cè)量·檢測(cè)、光物理、光電子信息技術(shù)等。于1990年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。
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