一種多提離值的金屬磁記憶檢測方法
作者：陳世利; 龐煜; 唐玉蓮; 黃新敬 天津大學精密儀器與光電子工程學院; 天津300072
摘要：金屬磁記憶檢測技術(shù)是一種新型的無損檢測技術(shù)，它利用金屬的磁記憶效應來確定構(gòu)件的缺陷區(qū)域．檢測中由于一些構(gòu)件表面感應磁場信號不平滑，存在與缺陷信號相似的磁場特征和梯度表現(xiàn)，容易造成漏判或誤判．為了區(qū)分這兩種信號，通過建立磁偶極子模型，分析了缺陷在材料表面或近表面的情況下檢測提離值對磁信號的影響，發(fā)現(xiàn)在提離值改變時感應磁場和缺陷漏磁場存在不同的表現(xiàn)．根據(jù)這一現(xiàn)象，提出多提離值檢測方法進行精確定位．通過對鋼板進行實驗驗證了該方法的有效性．
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納米技術(shù)與精密工程雜志
納米技術(shù)與精密工程雜志， 季刊，本刊重視學術(shù)導向，堅持科學性、學術(shù)性、先進性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：納米技術(shù)、微機電系統(tǒng)、精密加工、精密測量等。于2003年經(jīng)新聞總署批準的正規(guī)刊物。
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