摘要：以金絲楸（Catalpa bungei C.A.Mey）為試材,在抗寒鍛煉期間分析其莖和葉的電阻抗圖譜（electrical impedance spectroscopy,EIS）、可溶性糖含量及細(xì)胞膜透性。將莖和葉的EIS參數(shù)分別與相應(yīng)的可溶性糖含量進(jìn)行線性和非線性回歸分析,選取最佳EIS參數(shù)構(gòu)建估測模型,并對模型的精度進(jìn)行檢驗(yàn),同時(shí),用電阻抗圖譜法和電解質(zhì)滲出率法對金絲楸的抗寒性進(jìn)行測定。結(jié)果表明：1）隨著抗寒鍛煉的進(jìn)程,金絲楸莖和葉的可溶性糖含量均呈上升趨勢。2）抗寒鍛煉期間,金絲楸莖的EIS單弧逐漸變大,弧頂電抗值呈現(xiàn)下降趨勢。葉的EIS單弧先變大后變小,弧頂電抗值呈現(xiàn)先減小后增大的趨勢。3）金絲楸莖高頻電阻率r為估測莖可溶性糖含量的最佳EIS參數(shù),葉弛豫時(shí)間分布系數(shù)ψ為估測葉可溶性糖含量的最佳EIS參數(shù),分別構(gòu)建最佳估測模型r=-0.0177x2＋0.889x＋8.5912和ψ=0.0068x3-0.2023x2＋1.2192x＋18.4860,對模型進(jìn)行檢驗(yàn),預(yù)測精度分別達(dá)到91.62%和81.06%。4）采用電解質(zhì)滲出率法與高頻電阻率r和弛豫時(shí)間分布系數(shù)ψ測定的莖和葉的抗寒性較為接近,平均絕對誤差值分別為3.01和2.83。